线性二级管阵列是利用X射线闪烁晶体材料，如单晶的或直接与光电二极管相接触制作而成的射线线阵探测器。单晶体被切成很小的小块，形成图像中离散的像素。线性二极管阵列典型的构成是荧光层，一般由磷组成如钆氧硫化物。这层荧光被涂在光电二极管的单一阵列上，被检测的对象以恒定的速度对准X射线束移动。X射线穿透被检测对象到达荧光屏，产生的大量光子撞击屏幕发射出明亮的可见光线。通过光电二极管将这些光线转换为电子信号，图像处理器将电信号进行数字化，累积的数据线被组合成传统的二维物体的图像，显示在X射线检测机的计算机显示器上。线性二极管阵列技术广泛应用于工业异物检测和公共安全检查等领域。线性二极管阵列技术也正朝着快速扫描的方向发展，由于没有瓶颈问题的制约，使其达到了很高的发展水平。随着可编程器件和逻辑电路的应用，为高性能的探测器的出现创造了必要的条件，针对具体的应用和优化也更加容易。
用于模式识别的实际图像通常都有许多种特征，抽取有效的特征识别是一个非常重要的问题，这不仅影响到X光机识别的精度，也会直接影响识别的速度。原始图像中包含大量的信息，在大量信息中蕴含的就是众多的特征，选择的特征越多就可以越全面、越完整地描述某个目标。但是特征过多会造成维数爆炸，使一个低维情况下易于分析计算的问题，在高维的情况下就变得完全不可能。因此选择图像的哪些特征，如何去度量这些特征的鉴别能力是决定能否成功完成识别的关键。特征选择问题通常非常的复杂，若把区别不同类别的特征均从原始信息的分析中找到，需要处理大量数据，耗费大量的计算机资源，而某些重要特征往往在众多特征中显不出其相应的重要性来，不易于度量。为了在实际的检测中更高效、快速分类、通常只需要保留对区分不同类别较为重要的特征信息，舍去那些对分类并无多大贡献的特征信息，这就是X射线检测机特征筛选与压缩过程。对于产品的检测X光机会通过分析产品的位置、取向、尺寸、轮廓、灰度等特征进行识别，其中边缘和区域特征是较常用的。
ELS-80S 系列 高清晰X射线异物检测系统
鞋子、手袋、玩具、虫草等专用系列
大口线通道
可根据产品大小定做口径，宽：400-650mm 高：200-500mm
高速检测
每分钟10米（每小时800个物品）
检测精度
达到直径1.0 mm的金属球，断针尖、异物杂质，清晰可见
性价比较高
进口设备的检测效果图，国内的价格和服务，性价比较高
双打功能
图像打印：可随机、实时打印屏幕上的图片
条码打印：可在条码上打印物品的型号和名称、客户信息、流水号、生产时间，可任意编辑想要打印的内容。
技术参数
射线源：采用美国原装核心射线玻璃管、电压电流可调
传感器：采用日本原装多模0.2X1.0（mm）面陈CMOS传感器
处理器：全嵌入式DSP系统
图像显示：采用医用级别19寸高分辨率显示器
软件处理：采用神经网络、遗传算法等先进的模式识别技术，特定产品的辅助识别功能或自动识别功能
目前我国已成为世界较大的鞋类生产和出口国，国内鞋类产业正在以15%的速度持续发展，中国鞋类总产量已占世界总产量的66%，成为全球较具竞争力的鞋类生产和出口贸易中心之一。
我国鞋产品出口仍保持稳步增长态势，但同时也受到几方面因素制约：一是欧盟皮鞋反倾销影响依然存在，导致我国皮鞋总体出口量呈下降态势。二是原材料价格上涨增加了企业经营成本，而鞋产品的价格却难以同步上涨，企业发展空间进一步受到挤压。三是来自越南等国的竞争压力在上升。目前巴西、越南、印度等国不断增加鞋产量，与我国鞋产品在国际市场上的形成了较强的竞争。
今后中国制鞋业的发展必然要从低端市场走向中高端市场，要从数量型向品质型和效益型转变，产业升级换代是必走之路，因而，从数量上看，中国鞋业的生产量和出口量或许今后将有所下降，但品质将得到提升，产品价格和出口总值将会不断增长。
中国制鞋业今后的发展目标应是产业的国际化，和市场的全球化。我们建议内制鞋企业加强品牌意识，实施“品牌国际化战略”，提升产品品牌附加值。同时，企业加大质量、设计等方面的科研投入，提高产品的利润率水平。以长袖善舞的优势占领国际市场空间，实现制鞋业的可持续发展。
鞋子x光验钉机 穿透检测原理是指x射线通过物质时不被吸收的能力。x射线能穿透一般可见光所不能透过的物质。可见光因其波长较长，光子其有的能量很小，当射到物体上时，一部分被反射，大部分为物质所吸收，不能透过物体；而x射线则不然，咽其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。x射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，x射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。x射线的穿透力也与物质密度有关，密度大的物质，对x射线的吸收多，透过少；密度小者，吸收少，透过多。利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质软组织区分开来。这正是鞋子x光验钉机，x射线透视和摄影的物理原理。
X射线波长短和穿透性强的特征，使得常规的可见光探测器难以对其进行探测。一百多年以来，人们一直致力于研制新型的X射线探测器，以其能够在减小射线剂量的前提下，获得更好的成像质量。X射线探测器技术的发展与材料技术、微电子技术、现代信息技术以及计算机科学技术等多个学科密切相关。新型X射线探测器的应用，也都会伴随着新型的X射线成像技术的出现。X射线探测器是在接收到X射线后，把它转化为可测量或是可观测的量，如可见光、电流脉冲等。然后再转化为电信号通过电子测量装置进行测量，所有的射线探测器都是利用射线与探测介质作用时的各种特性。如影像的感光效应、闪烁晶体的荧光效应或是物质的电离效应等进行探测的，性能一般于被探测的X射线波段和被探测的参数等相关。无论在任何的成像系统中，探测器性能的好坏都直接影响到整个系统的性能进而影响到图像的质量。对于探测器的选取，还取决于应用的特殊要求与限制。光学转换效率、计算率和空间分辨率以及操作简易性是X射线探测器几个较重要的技术指标。
入射射线只随穿透物体的厚度增加而按指数规律迅速衰减，在实际X射线检测中常常都是宽束射线情况。即到达探测器的射线中不仅有入射射线中未与物质作用，沿着直线方向穿透物质的一次射线，还有与物质相互作用过程中产生的散射线二次射线和散射电子。应用宽束射线时，一次透射射线和散射射线同时到达探测器，到达探测器强度减弱程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿越的厚度。单能X射线只存在理想状态下，实际应用中的单能X射线往往是窄束连续谱射线。不同能量的射线穿过同样厚度的物体时所受到的衰减并不相同，使连续谱射线的衰减规律变得复杂。如果对连续谱射线的各波长分量分别进行计算将相当复杂，因此在讨论连续谱射线的衰减规律时，常会引入一个等效波长也称为平均波长。采用这个波长对连续谱射线的衰减规律进行近似的分析计算，X射线等效波长穿过一定厚度的物体后，连续谱射线的透射射线等效波长与入射射线相比，将发生硬化现象即等效波长减小平均能量提高。
工业常用的探测器有三种，闪烁体光电倍增管和闪烁体光电二级管及气体电离探测器。采集信号的方法则分为光子计数和电流积分两种，光子计数适合于射线强度较低的场合，电流积分法则适合于射线强度高的场合。因为射线强度增加时，光子计数法不能区分射线光子产生的单个脉冲。闪烁体光电倍增管探测器即可用光子计数也可以采用电流积分，闪烁体光电二极管和气体探测器由于信号弱只能采用电流积分。闪烁体光电倍增管探测器的工作原理是射线使闪烁体发出可见光，光电倍增管的光阴极将可见光转变为电子，电子被加速打到带正电的倍增电极上释放出更多的电子，经过一系列的倍增电极得到低背景噪声下的高电信号。闪烁光体二极管探测器的工作原理与闪烁体光电倍增管探测器相似，只是用光电二极管代替了光电倍增管的光电极，将可见光转变为电流电压转换器将电流信号放大并转换成电压信号。气体电离探测器是射线入射到充有高压气体的电离室内使气体原子电离，其优点是可以做到很高的排列密度，探测器之间的一致性好。
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